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一、工作原理: 原子力显微镜的工作原理是基于扫描探针技术,它使用一个非常细小的尖端(通常是由硅或氮化硅制成的针尖)在样品表面进行扫描。其主要步骤如下: 1.扫描探针:AFM使用的探针尖端非常细小,通常尖端的半径在几纳米到几十纳米之间。探针与样品表面之间保持一定的距离或接触。 2.扫描模式: (1)接触模式:探针与样品表面直接接触,探针尖端感受到样品表面原子的排斥力或吸引力,从而产生位移。原子力显微镜探针的位移变化被用来生成样品表面形貌的图像。 (2)非接触模式:探针尖端与样品表面保持一定的距离,通过探针尖端与样品之间的范德华力、静电力等相互作用感知表面特征。 (3)力-距离曲线模式:在扫描过程中,探针会施加和测量微小的力,记录力与样品距离的变化曲线,从而可以研究样品的物理性质(如弹性模量、粘附力等)。 3.反馈控制:原子力显微镜通过一个反馈机制(如激光束反射至光电二极管)来检测探针尖端的偏移量,这些位移反映了样品表面上的细微变化。 4.图像生成:通过记录探针扫描过程中的位移数据,原子力显微镜可以生成样品表面的高度图像,即“三维表面图”。这些图像可以提供表面形貌的详细信息,包括粗糙度、颗粒形态、纳米结构等。 二、原子力显微镜的主要性能参数: 1.分辨率:原子力显微镜可以达到极高的分辨率,水平分辨率一般为几纳米,垂直分辨率通常可达到亚纳米级别,甚至可以观察到单个原子或分子。 2.扫描范围:原子力显微镜的扫描范围可以从微米级到纳米级不等,具体取决于探针的尺寸和设备的配置。 3.力测量:通过与表面之间的相互作用力,原子力显微镜可以进行力学特性测试,如粘附力、硬度、弹性模量、摩擦力等。 4.样品表面特性:原子力显微镜可以提供高度精确的表面形貌图像,显示样品的粗糙度、微结构、颗粒分布、缺陷等信息。 |
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