在半导体与芯片技术高速迭代的当下，产品可靠性直接决定终端应用的稳定性与安全性，而专业的可靠性测试设备是保障芯片从研发到量产全流程质量的核心支撑。作为深耕试验设备领域三十余年的高新技术企业，上海柏毅试验设备有限公司精准洞察半导体行业测试痛点，凭借深厚的技术积淀、完善的产品矩阵和定制化服务能力，成为众多头部企业与科研机构的信赖之选。
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上海柏毅脱胎于 1993 年成立的台湾宏联电子科技有限公司，2010 年在上海正式创立，总部位于安亭・上海国际汽车城，拥有 40 余亩生产基地。
公司构建了 “双生产基地 + 全国服务网络” 的运营格局，同时在昆山设有研发智造基地，可实现研发与生产的高效协同。其产品符合 MIL-STD、GB、JEDEC 等多项主流试验标准，且已通过 ISO 质量管理体系认证，2024 年还斩获 “高温实验箱进气组件” 实用新型专利，技术与品质双获认可。
为精准对接半导体领域需求，上海柏毅专门成立半导体事业部，累计服务客户超 4000 家。服务对象既包含华为、小米、闻泰等头部企业，也涵盖科研院校、第三方检测实验室等机构。
此外，公司多次亮相慕尼黑上海电子展，展出的半导体相关测试设备凭借优异性能与适配性，获得行业广泛关注，市场影响力持续提升。
公司组建了由数十名机械、电气及制冷工程师构成的专业技术服务团队，可全程为客户提供设备选型、应用开发、系统配套及售后服务等全流程技术支持。针对特殊测试场景，团队还能按需定制各类非标测试系统，满足差异化的测试需求。
上海柏毅的产品涵盖环境模拟试验箱和电性能测试设备两大类，多款核心产品可精准匹配半导体与芯片的可靠性测试需求，具体如下：
- 小型高低温试验箱（桌上型）
适配纽扣电池、光模块、射频芯片等小型半导体器件的温度应力筛选，采用进口低噪音高效率压缩机，搭配减震垫设计，能真实还原器件在温变环境中的适应性，助力暴露早期缺陷。
- 冷热冲击试验箱
以两箱式款式为主，可模拟温度骤变环境，专门检测芯片因热应力导致的焊盘脱落、线路断裂等问题，是评估芯片在极端温变场景下稳定性的关键设备，广泛适配半导体封装测试环节。
- PCT 高压加速寿命老化试验箱
模拟高温、高湿、高压环境，针对半导体和印刷线路板等产品，能快速发现漏电、封装龟裂、金属腐蚀等问题。设备体积小巧可放置于工作台，旋钮式门锁设计解决了传统产品锁紧困难的问题，操作便捷高效。
- 双 85 恒温恒湿试验箱
在 85℃温度、85% 湿度的严苛条件下对芯片进行老化测试，精准检测芯片因高温高湿引发的电路短路、氧化等失效问题，为芯片封装工艺优化提供数据支撑。
- 快速温变试验箱
支持 10℃、15℃常规升降温速率，可满足军规级芯片 20℃的升降温要求，能短时间内完成多次温变循环测试，以此检测芯片的电迁移、漏电等热疲劳失效问题，大幅缩短芯片可靠性测试周期。
- 高温老化箱
模拟高温工况，评估芯片逻辑电路、存储器等部件的热稳定性，可排查芯片高温下的性能衰减、热熔断等失效模式，是芯片研发阶段质量可靠性筛查的基础设备。
- HCT 耐电流测试仪（全自动型）
作为 PCB 及芯片相关线路检测的关键工具，能测试半导体相关电气部件在极端电流下的耐受能力，具备高精度、宽量程和强抗干扰性的特点，操作简便，可保障芯片电路使用过程中的安全性与可靠性。
- CAF 离子迁移测试系统
属于 PCB 电性能核心测试设备，可检测芯片与线路板连接部位的离子迁移风险，避免因离子迁移导致的电路短路等故障，为半导体器件与线路板的适配可靠性提供保障。
从基础环境模拟到核心电性能检测，上海柏毅以 “合规化标准、定制化方案、全周期服务” 为核心，构建了覆盖半导体芯片可靠性测试全场景的产品体系，既适配量产环节的高效筛查需求，也满足研发阶段的精准验证诉求。依托双生产基地的制造实力、专业的技术团队与全国性服务网络，上海柏毅持续为华为、小米等数千家客户提供稳定可靠的设备支持与技术保障。未来，公司将继续深耕半导体测试领域，以技术创新驱动产品升级，为行业高质量发展注入持续动力，期待与更多行业伙伴携手共赢。
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